<address id="9pf99"></address>

<noframes id="9pf99"><span id="9pf99"><nobr id="9pf99"></nobr></span><address id="9pf99"></address>
<noframes id="9pf99">

    <noframes id="9pf99"><noframes id="9pf99">

    <form id="9pf99"><th id="9pf99"><progress id="9pf99"></progress></th></form>
    <em id="9pf99"></em>
    <address id="9pf99"><nobr id="9pf99"><meter id="9pf99"></meter></nobr></address>

    當前位置:首頁   >  產品中心   >  應力儀  >  應力雙折射Exicor-OIA

    • 該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中, HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射

      訪問次數:1782
      產品價格:面議
      廠商性質:代理商
      更新日期:2022-09-27
    共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
    掃碼關注

    傳真:010-68214292

    郵箱:gloria.yang@opcrown.com

    地址:北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室

    版權所有©2025 北京昊然偉業光電科技有限公司 All Rights Reserved     備案號:京ICP備10042209號-3     sitemap.xml     管理登陸     技術支持:化工儀器網
    中文字幕日本不卡一二三区