熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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激光測量
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光學測量
精密光機系統
激光器
光電器件
UD系列傳感器圓盤是為了集成到激光系統中而設計的。如果您已經在系統中設計了冷卻和信號處理,它們就是解決方案。
激光功率計 UP55-HD 系列用于 360 us 脈沖,長脈沖(ms)的脈沖能量可能更高,短脈沖(ns)的脈沖能量可能更小。
激光功率計PRONTO系列:1、便攜式;2、易于使用;3、數據記錄;4、從低到高的功率。
離散式熱釋電探測器:有4種尺寸可供選擇:2,3,5和9毫米孔徑,測試箱可用于混合探測器。
位移傳感探測器-QUAD 系列,可用于功率(QUAD-P)和能量(QUAD-E)測量。
M2測量系統 BEAMAGE-M2系列獲取一系列光束輪廓測量結果,以在幾秒鐘內自動執行光束質量進行測量。 它配備了大光學元件,便于對準和快速測量,是您可以信賴的產品。 它的軟件既直觀又符合ISO標準。
雙折射(應力)測量系統-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統。
雙折射(應力)測量系統 EXICOR-GEN,液晶基板應力分布測量,大型液晶基板應力分布測量,應力測量。Hinds,Exicor GEN5, Exicor GEN6。
激光功率計 UM-B系列特點:1、極低的噪聲水平;2、非常高的響應度;3、非常大的帶寬;4、包含一個隔離管用于阻隔環境中不需要的噪音。
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室
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