熱門關鍵詞: 測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切
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Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性,在生產車間和研發實驗室環境中均可勝任。 該模型廣泛用于研究和工業中測量組件; 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機顯示窗、注塑件等等。 臺式設計和直觀的自動掃描軟件使該產品成為高價值精密光學元件和商品光學元件(高達150mm X 15)
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