穆勒矩陣測量系統

簡要描述：穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM)，150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產品系列的這一新增功能可應用于學術和工業研究、光學元件特性、制造和質量控制。承包系統在各種光學、化學和生物化學樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲(或旋光)、線性二次衰減和圓形二次衰減。

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更新時間：2024-09-10
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　　在同一臺儀器中采用四個光彈性調制器(PEM)，150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產品系列的這一新增功能可應用于學術和工業研究、光學元件特性、制造和質量控制。承包系統在各種光學、化學和生物化學樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲(或旋光)、線性二次衰減和圓形二次衰減。

　　靈敏度和重復性

　　使用Hinds儀器公司的PEM技術，該系統為一個完整的穆勒偏振計提供了高靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以幾十千赫的速率調制。靈敏度和重復性可輕松提供亞納米水平的線性和圓形雙折射測量結果，以及線性和圓形二次衰減的亞百分比測定，這對于許多應用很重要。

　　精心設計，操作簡單，直觀

　　一個大至6“x 6"(150mm x 150mm;更大尺寸可選)的樣品可以手動或自動繪制并以圖形方式顯示。一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過程。用戶界面軟件可計算線性延遲值、圓形延遲值、線性衰減值和圓形衰減值，并以各種格式顯示它們。該軟件還提供文件管理和校準功能。在可選模式中，樣本可以相對測量光束傾斜，而不是在XY 平臺移動，使用自動旋轉器或旋轉器生成產所有十六個Mueller矩陣元素的角映射和樣本的所有偏振屬性。

　　Mueller偏振計測量了通過正在研究的光學樣品的光學路徑集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化，然后由前兩個脈沖編碼調制。調制光束通過樣品傳輸，然后通過另外兩個PEM的組合，一個分析器和一個光電探測器。電子信號是通過傅立葉分析捕獲的波形(鎖定選項可用于更低級別的信號檢測)來處理的。一種由紐約大學和Hinds儀器合作開發的軟件算法，將電子模塊中的信號電平轉換成16個Mueller矩陣元素和樣品的特性，當在自動映射模式下工作時，x-y平移階段將樣本移動到下一個預定的測量位置。結果以用戶需求的格式即時顯示。　

　　穆勒矩陣測量系統主要特點：

　　在全Mueller偏振計中具有高靈敏度

　　同時測量所有十六個Mueller矩陣元素

　　同時測量完整的偏振特性

　　準確重復性

　　高速測量

　　光學系統中無移動部件

　　可變尺寸光學元件的自動映射

　　光彈調制器技術

　　簡單、便于用戶使用的操作　　

　　穆勒矩陣測量系統應用：

　　學術和工業研究

　　質量控制計量

　　測量完整的偏振特性

　　具有復雜內部結構的光學元件

　　激光晶體

　　具有復雜圖層的液晶顯示器

　　非晶態晶體

　　各向異性晶體

　　化學和生物各向異性光學材料

　　由電場或磁場引起的各向異性

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